today's the day!

[Hein van Meeteren]

REPLY TO: D66 at nic.surfnet.nl

At 12:29 16-05-2002 +0200, Marc-Jan Ahne wrote:


>(objectief kwaliteit van een kamerkandidaat meten lijkt me ook heel
>lastig)

Toch zijn er in het bedrijfsleven goede meetinstrumenten ontwikkeld, zoals assessment centres, critical incident-tests en criteriagericht interviewen.

**********
Dit bericht is verzonden via de informele D66 discussielijst (D66 at nic.surfnet.nl).
Aanmelden: stuur een email naar LISTSERV at nic.surfnet.nl met in het tekstveld alleen: SUBSCRIBE D66
Afmelden: stuur een email naar LISTSERV at nic.surfnet.nl met in het tekstveld alleen: SIGNOFF D66
Het on-line archief is te vinden op: http://listserv.surfnet.nl/archives/d66.html
**********